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SN74BCT8374ADWR| IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
SN74BCT8374ADWR
描述 : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
庫存: AVAIL
在線報價一
現貨極具優勢，無起訂量限制，支持BOM表整單報價！
屬性
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Package / Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Supplier Device Package | 24-SOIC |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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電子元件制造商
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品牌 : Texas Instruments
型號 : MSP430F149IPMR-KAM
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品牌 : STMicroelectronics
型號 : STM32F103C8T6TR
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品牌 : Texas Instruments
型號 : TMS320F2812PGFAG4
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品牌 : Atmel
型號 : ATMEGA328P-AU
