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SN74BCT8374ANT| IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
SN74BCT8374ANT
描述 : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
庫存: AVAIL
在線報價一
現貨極具優勢，無起訂量限制，支持BOM表整單報價！
屬性
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
|---|---|
| Mounting Type | Through Hole |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Package / Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-PDIP |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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